標準號：GB/T2423.21-2008等同于國際通用標準IEC60068-2-13:1983電工電子產品環境試驗第2部分試驗方法（試驗M低氣壓），適用于室溫條件下的低氣壓試驗，高低溫低氣壓試驗箱的試驗目的是用于確認元件、設備或其他產品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應性（注：在高溫和低氣壓綜合或低溫和低壓綜合環境下貯存、運輸或使用的產品，這種綜合環境對于施加于產品上的應力或失效機理的影響是十分重要的，應按下列標準進行試驗）：
GB/T 2423.25 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗
高低溫低氣壓試驗箱標準的條款是通過部分引用文件形成的，其最新版本適用于本部分，引用文件如下:
GB/T 2421 電工電子產品環境試驗 第1部分：總則（GB/T 2421-1999,IEC 600681-1：1988，IDT）
GB/T 2423.25 電工電了產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423.25-2008，IEC 60068-2-40：1983,IDT）
GB/T2423.26 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423.26-2008,IEC 60068-2-41：1983，IDT）
ISO2533 標準大氣
附 一般說明：
高低溫低氣壓試驗原理為：將試驗樣品放入試驗箱，然后將箱內氣壓降低到相關規范規定的值，并保持規定持續時間的試驗。
GB/T 2423.25 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗
高低溫低氣壓試驗箱標準的條款是通過部分引用文件形成的，其最新版本適用于本部分，引用文件如下:
GB/T 2421 電工電子產品環境試驗 第1部分：總則（GB/T 2421-1999,IEC 600681-1：1988，IDT）
GB/T 2423.25 電工電了產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423.25-2008，IEC 60068-2-40：1983,IDT）
GB/T2423.26 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗（GB/T 2423.26-2008,IEC 60068-2-41：1983，IDT）
ISO2533 標準大氣
附 一般說明：
高低溫低氣壓試驗原理為：將試驗樣品放入試驗箱，然后將箱內氣壓降低到相關規范規定的值，并保持規定持續時間的試驗。
